第6章脈沖反射法超聲檢測通用技術(shù)

1、123a.a.儀器、探頭、試塊的選擇儀器、探頭、試塊的選擇; ; b.b.儀器調(diào)節(jié)與檢測靈敏度確定儀器調(diào)節(jié)與檢測靈敏度確定; ; c.c.耦合補償耦合補償; ; d.d.掃查方式掃查方式; ; e.e.缺陷的測定、記錄和等級評定缺陷的測定、記錄和等級評定; ; f.f.儀器和探頭系統(tǒng)復(fù)核。儀器和探頭系統(tǒng)復(fù)核。6.1 6.1 檢測面的選擇和準(zhǔn)備檢測面的選擇和準(zhǔn)備1. 1. 檢測面的選擇原則檢測面的選擇原則 當(dāng)一個確定的工件存在多個可能的聲入射當(dāng)一個確定的工件存在多個可能的聲入射面時，首先要考慮缺陷的最大可能取向。面時，首先要考慮缺陷的最大可能取向。根據(jù)缺陷的可能取向，選擇入射超聲波的根據(jù)缺陷的可

2、能取向，選擇入射超聲波的方向，使聲束軸線與缺陷的主反射面接近方向，使聲束軸線與缺陷的主反射面接近垂直。垂直。5n檢測面的選擇應(yīng)該與檢測技術(shù)的選擇相結(jié)檢測面的選擇應(yīng)該與檢測技術(shù)的選擇相結(jié)合合: : 鍛件：縱波垂直入射檢測，檢測面選與鍛件：縱波垂直入射檢測，檢測面選與鍛件流線相鍛件流線相 平行的表面；平行的表面； 棒材：入射面為圓周面，縱波檢測位于棒材：入射面為圓周面，縱波檢測位于棒材中心區(qū)的、延伸方向與棒材軸向平行棒材中心區(qū)的、延伸方向與棒材軸向平行的缺陷；橫波檢測位于表面附近垂直于表的缺陷；橫波檢測位于表面附近垂直于表面的裂紋，或沿圓周延伸的缺陷。面的裂紋，或沿圓周延伸的缺陷。 6n多個檢測面

3、入射檢測：多個檢測面入射檢測： 變形過程使缺陷有多種取向；變形過程使缺陷有多種取向； 單面檢測存在盲區(qū)；單面檢測存在盲區(qū)； 單面檢測靈敏度不能在整個工件厚度范單面檢測靈敏度不能在整個工件厚度范圍內(nèi)實現(xiàn)時。圍內(nèi)實現(xiàn)時。2. 2. 檢測面的準(zhǔn)備檢測面的準(zhǔn)備 保證檢測面能提供良好的聲耦合。保證檢測面能提供良好的聲耦合。 6.2 6.2 儀器和探頭的選擇儀器和探頭的選擇 正確選擇儀器和探頭對于有效地發(fā)現(xiàn)缺正確選擇儀器和探頭對于有效地發(fā)現(xiàn)缺陷，并對缺陷定位、定量和定性是至關(guān)重陷，并對缺陷定位、定量和定性是至關(guān)重要的。實際檢測中根據(jù)工件結(jié)構(gòu)形狀、加要的。實際檢測中根據(jù)工件結(jié)構(gòu)形狀、加工工藝和技術(shù)要求選擇儀

4、器與探頭。工工藝和技術(shù)要求選擇儀器與探頭。86.2.1 6.2.1 檢測儀器的選擇檢測儀器的選擇探傷要求儀器性能探傷要求儀器性能n定位要求高：定位要求高： n定量要求高：定量要求高：n發(fā)現(xiàn)近表面缺陷和區(qū)分相鄰缺陷能力強：發(fā)現(xiàn)近表面缺陷和區(qū)分相鄰缺陷能力強： 10：n室外現(xiàn)場檢測室外現(xiàn)場檢測 ： 重量輕，顯示屏亮，抗干擾能力強，重量輕，顯示屏亮，抗干擾能力強， 便便攜式。攜式。26.2.2 6.2.2 探頭的選擇探頭的選擇 根據(jù)被檢對象的形狀、聲學(xué)特點和技術(shù)根據(jù)被檢對象的形狀、聲學(xué)特點和技術(shù)要求來選擇探頭。要求來選擇探頭。 選擇包括：探頭的型式、頻率、帶寬、選擇包括：探頭的型式、頻率、帶寬、晶片

5、尺寸和橫波斜探頭晶片尺寸和橫波斜探頭K K值。值。12 1. 1. 探頭型式：探頭型式： 一般根據(jù)工件形狀和可能出現(xiàn)缺陷的部一般根據(jù)工件形狀和可能出現(xiàn)缺陷的部位、方向等條件來選擇，使聲束軸線盡量位、方向等條件來選擇，使聲束軸線盡量與缺陷垂直。與缺陷垂直。 縱波直探頭：波束軸線垂直于探測面。主縱波直探頭：波束軸線垂直于探測面。主要用于檢測與檢測面平行或近似平行的缺要用于檢測與檢測面平行或近似平行的缺陷。陷。 橫波斜探頭：通過波型轉(zhuǎn)換來實現(xiàn)橫波檢橫波斜探頭：通過波型轉(zhuǎn)換來實現(xiàn)橫波檢測。主要用于檢測與檢測面垂直或成一測。主要用于檢測與檢測面垂直或成一定角度的缺陷。定角度的缺陷。 縱波斜探頭：利用小角

6、度的縱波進行檢測縱波斜探頭：利用小角度的縱波進行檢測，或在橫波衰減過大的情況下，利用縱，或在橫波衰減過大的情況下，利用縱波穿透能力強的特點進行斜入射縱波檢波穿透能力強的特點進行斜入射縱波檢測。測。雙晶探頭：探測薄壁工件或近表面缺陷。雙晶探頭：探測薄壁工件或近表面缺陷。聚焦探頭：用于水浸探測管材或板材。聚焦探頭：用于水浸探測管材或板材。2. 2. 探頭頻率探頭頻率 超聲波檢測頻率范圍為超聲波檢測頻率范圍為0.50.510MHz10MHz，選，選擇頻率時應(yīng)考慮的因素?fù)耦l率時應(yīng)考慮的因素：15a.a.檢測靈敏度：檢測靈敏度： 檢測靈敏度約為檢測靈敏度約為1/21/2，頻，頻率高可提高檢測靈敏度。率高

7、可提高檢測靈敏度。b.b.分辨力分辨力: : 頻率高，脈沖寬度小，分辨力高頻率高，脈沖寬度小，分辨力高。c.c.聲束指向性：聲束指向性：頻率頻率高，半擴散角小，聲束指向性好，能量集高，半擴散角小，聲束指向性好，能量集中，檢測靈敏度高，相對的檢測區(qū)域小。中，檢測靈敏度高，相對的檢測區(qū)域小。D.D.近場區(qū)長度：近場區(qū)長度：，頻率高，近場，頻率高，近場區(qū)長度增加。區(qū)長度增加。e.e.衰減：衰減：s s=C=C2 2Fd Fd 3 3f f 4 4，頻率高，衰減增加，頻率高，衰減增加，信噪比下降。，信噪比下降。F.F.缺陷反射指向性：面積狀缺陷，頻率太高缺陷反射指向性：面積狀缺陷，頻率太高會形成顯著的

8、反射指向性。會形成顯著的反射指向性。n頻率的高低對檢測有較大影響，實際檢測頻率的高低對檢測有較大影響，實際檢測中要全面分析考慮各方面的因素，合理選中要全面分析考慮各方面的因素，合理選擇頻率以取得最佳平衡。擇頻率以取得最佳平衡。n對于小缺陷、厚度不大的工件，晶粒較細(xì)對于小缺陷、厚度不大的工件，晶粒較細(xì)的鍛件、軋制件和焊接件，一般選擇較高的鍛件、軋制件和焊接件，一般選擇較高頻率（頻率（2.510MHz2.510MHz）；對于大厚度工件、高）；對于大厚度工件、高衰減材料選擇較低頻率（衰減材料選擇較低頻率（0.52.5MHz0.52.5MHz）。）。183. 3. 探頭帶寬探頭帶寬n寬帶探頭：脈沖寬度

9、較小，深度分辨率好寬帶探頭：脈沖寬度較小，深度分辨率好，盲區(qū)小，靈敏度較低；，盲區(qū)小，靈敏度較低；n窄帶探頭：脈沖較寬，深度分辨率變差，窄帶探頭：脈沖較寬，深度分辨率變差，盲區(qū)大，靈敏度較高，穿透能力強。盲區(qū)大，靈敏度較高，穿透能力強。194. 4. 探頭晶片尺寸：晶片面積探頭晶片尺寸：晶片面積500mm500mm2 2，圓，圓晶片晶片25mm25mm。n晶片大小影響：聲束指向性、近場區(qū)長度晶片大小影響：聲束指向性、近場區(qū)長度、近距離掃查范圍、遠(yuǎn)距離缺陷檢出能力、近距離掃查范圍、遠(yuǎn)距離缺陷檢出能力。n選擇晶片尺寸時應(yīng)考慮的因素：選擇晶片尺寸時應(yīng)考慮的因素： a. a. 聲束指向性；聲束指向性；

10、 b. b. 近場區(qū)長度；近場區(qū)長度； c. c. 掃查范圍。掃查范圍。n大晶片探頭大晶片探頭: :提高檢測效率，檢測厚工件時提高檢測效率，檢測厚工件時有效發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離的缺陷；有效發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離的缺陷；21n小晶片探頭小晶片探頭: :檢測小工件時提高缺陷定位、檢測小工件時提高缺陷定位、定量精度，檢測表面不太平整或曲率較大定量精度，檢測表面不太平整或曲率較大工件時減少耦合損失。工件時減少耦合損失。5. 5. 橫波斜探頭橫波斜探頭K K值：值：n橫波檢測中，斜探頭橫波檢測中，斜探頭K K值影響缺陷檢出率、值影響缺陷檢出率、檢測靈敏度、聲束軸線方向，一次波的聲檢測靈敏度、聲束軸線方向，一次波的聲程。程。n

11、為保證聲束掃查到整個焊縫，探頭為保證聲束掃查到整個焊縫，探頭K K值必須值必須滿足：滿足： （a a、b b分別為上、下焊縫分別為上、下焊縫1/21/2寬）寬）n實際檢測中，工件厚度較小時，應(yīng)選用較實際檢測中，工件厚度較小時，應(yīng)選用較大大K K值，工件厚度較大時，應(yīng)選用較小值，工件厚度較大時，應(yīng)選用較小K K值值。n焊縫檢測中，焊縫檢測中，K K值的選擇應(yīng)考慮可能產(chǎn)生的值的選擇應(yīng)考慮可能產(chǎn)生的與檢測面的角度，并保證主聲束能掃查整與檢測面的角度，并保證主聲束能掃查整個焊縫截面。檢測根部未焊透應(yīng)考慮端角個焊縫截面。檢測根部未焊透應(yīng)考慮端角反射率問題。反射率問題。n如光從探頭考慮：從斜入射往復(fù)透過率

12、角如光從探頭考慮：從斜入射往復(fù)透過率角度分析，有機玻璃度分析，有機玻璃鋼折射角鋼折射角=40=405050（相當(dāng)于（相當(dāng)于K=1K=1左右）往復(fù)透過率最高，大于左右）往復(fù)透過率最高，大于20%20%30%30%。此時檢測靈敏度最高。此時檢測靈敏度最高。n=50=506060時，往復(fù)透過率時，往復(fù)透過率171720%20%（相（相當(dāng)當(dāng)K=1.5K=1.5）。）。n=60=607070時，往復(fù)透過率時，往復(fù)透過率141417%17%（相（相當(dāng)當(dāng)K=2K=2）。）。n=70=708080時，往復(fù)透過率時，往復(fù)透過率101014%14%（相（相當(dāng)當(dāng)K=2.5K=2.53 3）。）。n=80=80909

13、0時，往復(fù)透過率時，往復(fù)透過率10%010%0。n即即越大（越大（K K越大），往復(fù)透過率越小，靈越大），往復(fù)透過率越小，靈敏度越小。敏度越小。n當(dāng)然靈敏度除了探頭當(dāng)然靈敏度除了探頭K K值，還有儀器配合。值，還有儀器配合。6.3 6.3 耦合劑的選用耦合劑的選用6.3.1 6.3.1 耦合劑耦合劑n超聲耦合：超聲波在檢測面上的聲強透射超聲耦合：超聲波在檢測面上的聲強透射率。率。n耦合劑作用：排除探頭與工件表面之間的耦合劑作用：排除探頭與工件表面之間的空氣，使超聲波有效的傳入工件，達(dá)到檢空氣，使超聲波有效的傳入工件，達(dá)到檢測的目的。測的目的。6.3.2 6.3.2 影響聲耦合的主要因素影響聲耦

14、合的主要因素 1 1耦合層厚度：厚度為耦合層厚度：厚度為/4/4的奇數(shù)倍時的奇數(shù)倍時，透聲效果差；為，透聲效果差；為/2/2的整數(shù)倍或很薄時的整數(shù)倍或很薄時，透聲效果好。，透聲效果好。 2 2工件表面粗糙度：對聲耦合有明顯的工件表面粗糙度：對聲耦合有明顯的影響，要求工件檢測面影響，要求工件檢測面Ra6.3mRa6.3m。 3 3耦合劑聲阻抗：對耦合效果有較大的影耦合劑聲阻抗：對耦合效果有較大的影響。響。 35 4 4工件表面形狀：平面耦合效果最好，凸工件表面形狀：平面耦合效果最好，凸曲面次之，凹曲面最差。曲率半徑大，耦曲面次之，凹曲面最差。曲率半徑大，耦合效果好。合效果好。366.4 6.4

15、縱波直探頭檢測技術(shù)縱波直探頭檢測技術(shù)6.4.1 6.4.1 檢測設(shè)備的調(diào)整檢測設(shè)備的調(diào)整n調(diào)整內(nèi)容：調(diào)整內(nèi)容：a.a.儀器的掃描速度調(diào)整；儀器的掃描速度調(diào)整； b.b.檢測靈敏度調(diào)整。檢測靈敏度調(diào)整。n調(diào)整目的：保證在確定的檢測范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)調(diào)整目的：保證在確定的檢測范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)規(guī)定尺寸的缺陷，并確定缺陷的位置和大規(guī)定尺寸的缺陷，并確定缺陷的位置和大小。小。 1 1 時基線的調(diào)整時基線的調(diào)整n調(diào)整目的：調(diào)整目的： a. a. 使時基線顯示的范圍足以含需檢測的使時基線顯示的范圍足以含需檢測的深度范圍。深度范圍。 b.b.使時基線刻度與在材料中聲傳播的距離使時基線刻度與在材料中聲傳播的距離成一定比例，以

16、便準(zhǔn)確測定缺陷的深度位成一定比例，以便準(zhǔn)確測定缺陷的深度位置。置。38n調(diào)整內(nèi)容：調(diào)整內(nèi)容： a. a. 根據(jù)所需掃描聲程范圍確定時基掃描根據(jù)所需掃描聲程范圍確定時基掃描線比例；線比例； b. b. 零位調(diào)節(jié)，將聲程零位設(shè)置在選定的零位調(diào)節(jié)，將聲程零位設(shè)置在選定的水平刻度線上。水平刻度線上。39n調(diào)整方法：調(diào)整方法： 根據(jù)檢測范圍，利用已知尺寸的試塊或工根據(jù)檢測范圍，利用已知尺寸的試塊或工件上的兩次不同反射波，件上的兩次不同反射波， 通過調(diào)節(jié)儀器的通過調(diào)節(jié)儀器的掃描范圍和延遲旋鈕，使兩個信號的前沿掃描范圍和延遲旋鈕，使兩個信號的前沿分別位相應(yīng)的水平刻度處。分別位相應(yīng)的水平刻度處。 注意：調(diào)節(jié)掃

17、描速度用的試塊應(yīng)與被檢工注意：調(diào)節(jié)掃描速度用的試塊應(yīng)與被檢工件具有相同的聲速。件具有相同的聲速。 2 2 檢測靈敏度的調(diào)整檢測靈敏度的調(diào)整n檢測靈敏度：在確定的聲程范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)規(guī)檢測靈敏度：在確定的聲程范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小缺陷的能力。一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要定大小缺陷的能力。一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定。求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定。n調(diào)整目的：發(fā)現(xiàn)工件中規(guī)定大小的缺陷，調(diào)整目的：發(fā)現(xiàn)工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷定量。并對缺陷定量。41n調(diào)節(jié)方法：試塊調(diào)整法和工件底波調(diào)整法調(diào)節(jié)方法：試塊調(diào)整法和工件底波調(diào)整法。（1 1）試塊調(diào)整法：根據(jù)工件的厚度和對靈）試塊調(diào)整法：根據(jù)工件的厚度和對靈敏度的要求選擇相應(yīng)的試

18、塊。將探頭對準(zhǔn)敏度的要求選擇相應(yīng)的試塊。將探頭對準(zhǔn)試塊上的人工反射體，調(diào)整儀器，使示波試塊上的人工反射體，調(diào)整儀器，使示波屏上人工反射體的最高反射回波達(dá)到基準(zhǔn)屏上人工反射體的最高反射回波達(dá)到基準(zhǔn)高度。高度。42注意問題：注意問題：a. a. 工件厚度工件厚度x3Nx3N或不能獲得底波情況時，或不能獲得底波情況時， 較為適宜。較為適宜。 b. b. 試塊表面狀態(tài)和材質(zhì)衰減是否與被檢試塊表面狀態(tài)和材質(zhì)衰減是否與被檢工件相近，應(yīng)考慮兩者的差異引起的反射工件相近，應(yīng)考慮兩者的差異引起的反射波高差異值，并對靈敏度進行補償。波高差異值，并對靈敏度進行補償。（2 2）試塊計算法：）試塊計算法： 對于厚度對于

19、厚度x x3N3N的工件，可選用一塊材質(zhì)的工件，可選用一塊材質(zhì)與工件相同（衰減系數(shù)相同）的平底孔試與工件相同（衰減系數(shù)相同）的平底孔試塊（孔埋深塊（孔埋深x xj j3N3N）來調(diào)節(jié)不同工件的檢測）來調(diào)節(jié)不同工件的檢測靈敏度。調(diào)節(jié)時要計算試塊基準(zhǔn)平底孔與靈敏度。調(diào)節(jié)時要計算試塊基準(zhǔn)平底孔與檢測靈敏度所要求埋深與孔徑的平底孔的檢測靈敏度所要求埋深與孔徑的平底孔的回波聲壓分貝差?；夭晧悍重惒睢?不同直徑不同埋深的平底孔回波的聲不同直徑不同埋深的平底孔回波的聲壓分貝差為：壓分貝差為： dBdB為檢測靈敏度的調(diào)節(jié)量，計算值為檢測靈敏度的調(diào)節(jié)量，計算值為負(fù)值時需要提高儀器增益，計算值為正為負(fù)值時需要提

20、高儀器增益，計算值為正值時需要降低儀器增益。值時需要降低儀器增益。 考慮試塊與受檢工件表面狀態(tài)的差異，考慮試塊與受檢工件表面狀態(tài)的差異，應(yīng)需要預(yù)先測定傳輸修正值，并在調(diào)節(jié)增應(yīng)需要預(yù)先測定傳輸修正值，并在調(diào)節(jié)增益時進行補償。益時進行補償。n如果基準(zhǔn)平底孔與檢測靈敏度要求的平底如果基準(zhǔn)平底孔與檢測靈敏度要求的平底孔埋深相差較大，在計算調(diào)節(jié)量時還應(yīng)考孔埋深相差較大，在計算調(diào)節(jié)量時還應(yīng)考慮材質(zhì)衰減的影響，試塊計算法要求試塊慮材質(zhì)衰減的影響，試塊計算法要求試塊衰減系數(shù)與工件相同，因此采用下式計算衰減系數(shù)與工件相同，因此采用下式計算總的增益調(diào)節(jié)量：總的增益調(diào)節(jié)量：例題：例題： 用用f f=2.5MHz=2

21、.5MHz、D DS S=20mm=20mm的縱波探頭檢測，的縱波探頭檢測，鋼件厚度鋼件厚度x x為為500mm500mm，傳輸修正值為，傳輸修正值為3dB3dB，工，工件與試塊的材料衰減系數(shù)件與試塊的材料衰減系數(shù)=0.005dB0.005dB，如，如何利用埋深何利用埋深200mm200mm的的2mm2mm平底孔試塊按平底孔試塊按3mm3mm平底孔調(diào)節(jié)檢測靈敏度？（鋼中平底孔調(diào)節(jié)檢測靈敏度？（鋼中C CL L=5900m/s=5900m/s）。48解： CL/f 5.9/2.5=2.36 (mm) N DS2 /4 202/42.36 42(mm) 200 (mm) 3N342126(mm)

22、試塊中的平底孔埋深和工件厚度均大于 3N， 可用試塊計算法來調(diào)節(jié)檢測靈敏度。 檢測靈敏度調(diào)節(jié)量為：檢測靈敏度調(diào)節(jié)量為： dB=40lgdB=40lg5005002 2/ /200200 3 3 2 20.0050.005（500-200500-200） = =9+3=129+3=12（dBdB） 加上傳輸修正值加上傳輸修正值3dB3dB，共需增益，共需增益15dB15dB。 調(diào)節(jié)儀器：調(diào)節(jié)儀器： 將試塊中平底孔的最大回波調(diào)到規(guī)定高將試塊中平底孔的最大回波調(diào)到規(guī)定高度，再增益度，再增益15dB15dB。 n鍛件探傷（實例）鍛件探傷（實例）n以以175/3175/3（22）試塊為基準(zhǔn)調(diào)節(jié)儀器，）試

23、塊為基準(zhǔn)調(diào)節(jié)儀器，探測探測225mm225mm鍛件，要求鍛件，要求225/2225/2靈敏度。靈敏度。( (探探頭頭:2.5P:2.5P2020Z Z）n1 1、計算：、計算： C/f C/f 5.9/2.5=2.36 (mm)5.9/2.5=2.36 (mm) 1 15050 (mm) (mm) 3N3N3 3127.2127.2 (mm) (mm) 可以用當(dāng)量計算法確定探測靈敏度可以用當(dāng)量計算法確定探測靈敏度 =40lg2253（2）/1502 =14（7）dBn2、調(diào)節(jié)：、調(diào)節(jié)： 將探頭對準(zhǔn)將探頭對準(zhǔn)175試塊底面利用一次最高反試塊底面利用一次最高反射底波調(diào)節(jié)儀器掃描速度，再將射底波調(diào)節(jié)

24、儀器掃描速度，再將150/3 （2）最高反射波高調(diào)至）最高反射波高調(diào)至80%波高，增益波高，增益14(7)dB，即為，即為225/2靈敏度。靈敏度。n3、測試：、測試： 在在225mm鍛件底部中心鍛件底部中心200mm深處發(fā)現(xiàn)一深處發(fā)現(xiàn)一缺陷，反射波高缺陷，反射波高=3dB； =3dB=40lg225x/2002 x=2.11(mm)n4、結(jié)論：該鍛件經(jīng)、結(jié)論：該鍛件經(jīng)UT探傷在底部中心探傷在底部中心200mm深處發(fā)現(xiàn)一缺陷，相當(dāng)于深處發(fā)現(xiàn)一缺陷，相當(dāng)于2平底孔平底孔當(dāng)量，按當(dāng)量，按JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)評為標(biāo)準(zhǔn)評為級。級。(3)(3)工件底波調(diào)整法：工件底波調(diào)整法： 根據(jù)工件底面回波

25、與人工缺陷（如平根據(jù)工件底面回波與人工缺陷（如平底孔）回波分貝差底孔）回波分貝差dBdB為定值的原理進行為定值的原理進行的。的。 注意問題：只能用于厚度注意問題：只能用于厚度x3Nx3N的工件，要的工件，要求工件具有平行底面或圓柱底面，且底面求工件具有平行底面或圓柱底面，且底面光潔干凈。光潔干凈。 1)1)工件底面回波與同深度的人工缺陷（如平工件底面回波與同深度的人工缺陷（如平底孔）回波分貝差底孔）回波分貝差dBdB理論計算公式：理論計算公式： （x3Nx3N） n鍛件探傷（實例）鍛件探傷（實例）n以以175175（225225）mmmm試塊底面為基準(zhǔn)調(diào)節(jié)儀器試塊底面為基準(zhǔn)調(diào)節(jié)儀器，探測，探測

26、175175（225225）mmmm鍛件，要求鍛件，要求175175（225225）/2/2靈敏度。靈敏度。( (探頭探頭:2.5P:2.5P2020Z Z）n1 1、計算：、計算： C/f C/f 5.9/2.5=2.36 (mm)5.9/2.5=2.36 (mm) 1 175(225)75(225) (mm) (mm) 3N3N3 3 127.2127.2 (mm) (mm) 可以用當(dāng)量計算法確定探測靈敏度可以用當(dāng)量計算法確定探測靈敏度 =20lg2X/2 =20lg22.36175(225)/3.1422 =36(38)dBn2、調(diào)節(jié)：、調(diào)節(jié)： 將探頭對準(zhǔn)將探頭對準(zhǔn)175（225）mm試

27、塊底面利用一試塊底面利用一次最高反射底波調(diào)節(jié)儀器掃描速度，再將次最高反射底波調(diào)節(jié)儀器掃描速度，再將175（225）試塊底面最高反射波高調(diào)至）試塊底面最高反射波高調(diào)至80%波高，增益波高，增益36(38)dB，即為，即為175（225）/2靈敏度。靈敏度。n3 3、測試：、測試： 在在175mm175mm鍛件底部中心鍛件底部中心150mm150mm深處發(fā)現(xiàn)深處發(fā)現(xiàn) 一缺陷，反射波高一缺陷，反射波高=3dB=3dB； =3dB=40lg175=3dB=40lg175x/150 x/1502 2 xx=2.04(mm)=2.04(mm)n4 4、結(jié)論：該鍛件經(jīng)、結(jié)論：該鍛件經(jīng)UTUT探傷在底部中探傷

28、在底部中150mm150mm深處發(fā)現(xiàn)一缺陷，相當(dāng)于深處發(fā)現(xiàn)一缺陷，相當(dāng)于22平底孔當(dāng)量，平底孔當(dāng)量，按按JB/T4730-2005JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)評為標(biāo)準(zhǔn)評為級。級。 2)2)工件底面回波與不同深度的人工缺陷（如工件底面回波與不同深度的人工缺陷（如平底孔）回波分貝差平底孔）回波分貝差dBdB理論計算公式：理論計算公式： （x3Nx3N）n鍛件探傷（實例）鍛件探傷（實例）n以以100大平底試塊為基準(zhǔn)調(diào)節(jié)儀器，探測大平底試塊為基準(zhǔn)調(diào)節(jié)儀器，探測225（175）mm鍛件，要求鍛件，要求225（175）/2靈敏靈敏度。度。(探頭探頭:2.5P14Z）n1、計算：、計算： C/f 5.9/

29、2.5=2.36 (mm) N DS2 /4 142/42.36 20.8(mm) 100 (mm) 3N320.8 62.3(mm) 可以用當(dāng)量計算法確定探測靈敏度可以用當(dāng)量計算法確定探測靈敏度n=20lg2X22/2X1 =20lg22.362252(1752)/3.1422100 =45.6(41.2)dBn2、調(diào)節(jié)：、調(diào)節(jié)： 將探頭對準(zhǔn)將探頭對準(zhǔn)100mm大平底試塊利用一次最大平底試塊利用一次最高反射底波調(diào)節(jié)儀器掃描速度，再將高反射底波調(diào)節(jié)儀器掃描速度，再將B1最最高反射底波調(diào)至高反射底波調(diào)至80%波高，增益波高，增益46(41)dB，即為即為225（175）/2靈敏度。靈敏度。n3、

30、測試：、測試： 在在225（175）mm鍛件底部中心鍛件底部中心200（150）mm深處發(fā)現(xiàn)一缺陷，反射波高深處發(fā)現(xiàn)一缺陷，反射波高=14.5dB； =14.5dB=40lg225（175）x/ 200（150）2 x=4.1(mm)n4、結(jié)論：該鍛件經(jīng)、結(jié)論：該鍛件經(jīng)UT探傷在底部中心探傷在底部中心200（150）mm深處發(fā)現(xiàn)一缺陷，相當(dāng)于深處發(fā)現(xiàn)一缺陷，相當(dāng)于4.1平底孔當(dāng)量，按平底孔當(dāng)量，按JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)評為標(biāo)準(zhǔn)評為級。級。3. 3. 傳輸修正值的測定傳輸修正值的測定 在利用試塊調(diào)節(jié)檢測靈敏度時，當(dāng)工件在利用試塊調(diào)節(jié)檢測靈敏度時，當(dāng)工件表面狀態(tài)和材質(zhì)衰減與對比試塊存在差異

31、表面狀態(tài)和材質(zhì)衰減與對比試塊存在差異時采取的一種補償措施。時采取的一種補償措施。65測定方法：測定方法： 通過試塊的底波與工件底波進行比較，通過試塊的底波與工件底波進行比較，取其比值的分貝值。取其比值的分貝值。要求：要求： 試塊與工件均有相互平行的大平底表面。試塊與工件均有相互平行的大平底表面。4.4.工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測定工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測定 目的：在檢測大厚度工件的情況下，用計目的：在檢測大厚度工件的情況下，用計算法調(diào)整靈敏度和評定缺陷當(dāng)量時，計算算法調(diào)整靈敏度和評定缺陷當(dāng)量時，計算材質(zhì)衰減引起的信號幅度差。材質(zhì)衰減引起的信號幅度差。 測定方法：（見標(biāo)準(zhǔn)測定方法：（見標(biāo)準(zhǔn)4.2.7)4.

32、2.7)6.4.2 6.4.2 掃查掃查n掃查：移動探頭是聲束覆蓋到工件上需檢掃查：移動探頭是聲束覆蓋到工件上需檢測的所有體積的過程。測的所有體積的過程。n掃查方式：探頭移動方式、掃查速度、掃掃查方式：探頭移動方式、掃查速度、掃查間距。查間距。n掃查靈敏度：掃查靈敏度： 為了保證缺陷的檢出，防止因耦合不穩(wěn)為了保證缺陷的檢出，防止因耦合不穩(wěn)使缺陷顯示幅度過低而漏檢，掃查時將調(diào)使缺陷顯示幅度過低而漏檢，掃查時將調(diào)整好的靈敏度在再增益整好的靈敏度在再增益4 46dB6dB。(1) (1) 掃查方式：按探頭移動方向、移動軌跡掃查方式：按探頭移動方向、移動軌跡來描述。來描述。(2) (2) (3) (3

33、) 評定內(nèi)容：評定內(nèi)容： 缺陷位置缺陷位置: : 缺陷平面位置和埋藏深度。缺陷平面位置和埋藏深度。 缺陷尺寸缺陷尺寸: : 缺陷回波幅度、當(dāng)量尺寸、延缺陷回波幅度、當(dāng)量尺寸、延 伸長度（或面積）的測量。伸長度（或面積）的測量。1. 1. 缺陷位置的確定缺陷位置的確定 缺陷平面位置的確定：缺陷波最大幅度的缺陷平面位置的確定：缺陷波最大幅度的位置處，通常位于探頭的正下方。位置處，通常位于探頭的正下方。 缺陷埋藏深度的確定：缺陷埋藏深度的確定： x x f f = n= nf f2. 2. 缺陷尺寸的評定缺陷尺寸的評定(1) (1) 回波高度法：根據(jù)回波高度給缺陷定量回波高度法：根據(jù)回波高度給缺陷定

34、量的方法。的方法。1) 1) 缺陷回波高度法：缺陷回波高度法： 在調(diào)定的靈敏度下，缺陷回波峰值相對在調(diào)定的靈敏度下，缺陷回波峰值相對于熒光屏垂直滿刻度的百分比，或用回波于熒光屏垂直滿刻度的百分比，或用回波峰值下降或上升至基準(zhǔn)高度所需衰減（或峰值下降或上升至基準(zhǔn)高度所需衰減（或增益）的分貝數(shù)來表示缺陷回波的高度。增益）的分貝數(shù)來表示缺陷回波的高度。2) 2) 底面回波高度法：底面回波高度法： 底面回波高度的降低的多少與缺陷的大底面回波高度的降低的多少與缺陷的大小有關(guān)。小有關(guān)。 B/BB/BF F法：在一定的檢測靈敏度條件下，用法：在一定的檢測靈敏度條件下，用無缺陷時的工件底面回波高度無缺陷時的工

35、件底面回波高度B B與有缺陷時與有缺陷時的工件底面回波高度的工件底面回波高度B BG G相比較來確定缺陷相相比較來確定缺陷相對大小的方法。對大小的方法。 F/B F/BF F法：用缺陷回波的高度法：用缺陷回波的高度F F與缺陷處工與缺陷處工件底面回波的高度件底面回波的高度B BG G相比較來確定缺陷相對相比較來確定缺陷相對大小的方法。大小的方法。 F/B F/B法：用缺陷回波的高度法：用缺陷回波的高度F F與無缺陷處工與無缺陷處工件底面回波的高度件底面回波的高度B B相比較來確定缺陷相對相比較來確定缺陷相對大小的方法。大小的方法。n優(yōu)點：不需要對比試塊和復(fù)雜的計算，可優(yōu)點：不需要對比試塊和復(fù)雜

36、的計算，可利用缺陷的陰影對缺陷大小進行評價有助利用缺陷的陰影對缺陷大小進行評價有助于檢測因缺陷形狀、反射率等原因使反射于檢測因缺陷形狀、反射率等原因使反射信號較弱的大缺陷。信號較弱的大缺陷。n缺點：不能明確地給出缺陷的尺寸，位考缺點：不能明確地給出缺陷的尺寸，位考慮缺陷深度、聲束直徑等對檢測結(jié)果的影慮缺陷深度、聲束直徑等對檢測結(jié)果的影響。不適用于對形狀復(fù)雜而無底面回波的響。不適用于對形狀復(fù)雜而無底面回波的工件進行檢測。工件進行檢測。(2) (2) 當(dāng)量評定法：將缺陷的回波幅度與規(guī)則當(dāng)量評定法：將缺陷的回波幅度與規(guī)則形狀的人工反射體的回波幅度進行比較的形狀的人工反射體的回波幅度進行比較的方法。適

37、用于面積小于聲束截面的缺陷的方法。適用于面積小于聲束截面的缺陷的尺寸評定。尺寸評定。n缺陷的當(dāng)量尺寸：缺陷與規(guī)則形狀的人工缺陷的當(dāng)量尺寸：缺陷與規(guī)則形狀的人工反射體的埋深相同，反射波高相等，則稱反射體的埋深相同，反射波高相等，則稱該人工反射體的反射面尺寸為缺陷的當(dāng)量該人工反射體的反射面尺寸為缺陷的當(dāng)量尺寸。尺寸。n注意：通常情況下實際缺陷的實際尺寸要注意：通常情況下實際缺陷的實際尺寸要大于當(dāng)量尺寸。大于當(dāng)量尺寸。1) 1) 試塊對比法：將缺陷波幅度直接與對比試塊對比法：將缺陷波幅度直接與對比試塊中同聲程的人工反射體回波幅度相比試塊中同聲程的人工反射體回波幅度相比較，兩者相等時以該人工反射體尺寸

38、作為較，兩者相等時以該人工反射體尺寸作為缺陷當(dāng)量。缺陷當(dāng)量。n注意：采用試塊對比法給缺陷定量時，要注意：采用試塊對比法給缺陷定量時，要保持檢測條件（試塊的材質(zhì)、表面粗糙度保持檢測條件（試塊的材質(zhì)、表面粗糙度和形狀、缺陷和平底孔的埋深、所用的儀和形狀、缺陷和平底孔的埋深、所用的儀器、探頭和對探頭施加的壓力等）相同。器、探頭和對探頭施加的壓力等）相同。 如果缺陷和平底孔的埋深不同，則可用如果缺陷和平底孔的埋深不同，則可用兩個埋深與之相近的平底孔，用插值法進兩個埋深與之相近的平底孔，用插值法進行評定。行評定。n優(yōu)點：明確直觀，結(jié)果可靠，不受近場區(qū)優(yōu)點：明確直觀，結(jié)果可靠，不受近場區(qū)的限制。的限制。n

39、缺點：要制作一系列含不同聲程不同直徑缺點：要制作一系列含不同聲程不同直徑人工缺陷的試塊。人工缺陷的試塊。2) 2) 當(dāng)量計算法：當(dāng)量計算法： 根據(jù)超聲檢測中測得的缺陷回波與基準(zhǔn)根據(jù)超聲檢測中測得的缺陷回波與基準(zhǔn)波高（或底波）的分貝差值，利用各種規(guī)波高（或底波）的分貝差值，利用各種規(guī)則反射體的理論回波聲壓公式進行計算，則反射體的理論回波聲壓公式進行計算，求出缺陷當(dāng)量尺寸的定量方法。求出缺陷當(dāng)量尺寸的定量方法。 注意：計算法應(yīng)用的前提是缺陷位于注意：計算法應(yīng)用的前提是缺陷位于3 3倍倍近場長度以外。近場長度以外。n大平底回波聲壓公式：大平底回波聲壓公式：n平底孔回波聲壓公式：平底孔回波聲壓公式：（

40、x3N）（x3N）n不同直徑與距離平底孔，其回波聲壓間的不同直徑與距離平底孔，其回波聲壓間的分貝差值為：分貝差值為：若考慮材質(zhì)衰減引起的聲壓隨距離的變化：若考慮材質(zhì)衰減引起的聲壓隨距離的變化：n不同距離的平底孔與大平底回波聲壓間的不同距離的平底孔與大平底回波聲壓間的分貝差值為：分貝差值為：若考慮材質(zhì)衰減引起的聲壓隨距離的變化：若考慮材質(zhì)衰減引起的聲壓隨距離的變化：3) AVG3) AVG曲線法：縱波直探頭檢測時，可用平曲線法：縱波直探頭檢測時，可用平底孔底孔AVGAVG曲線確定缺陷當(dāng)量。曲線確定缺陷當(dāng)量。 通用通用AVGAVG曲線、曲線、 實用實用AVGAVG曲線。曲線。 (3) (3) 缺陷

41、延伸長度的測定：缺陷延伸長度的測定： 對于面積大于聲束截面或長度大于聲束對于面積大于聲束截面或長度大于聲束截面直徑的缺陷，根據(jù)可檢測到缺陷的探截面直徑的缺陷，根據(jù)可檢測到缺陷的探頭移動范圍來確定缺陷的大小。頭移動范圍來確定缺陷的大小。n缺陷的指示長度：按規(guī)定的方法測定的缺缺陷的指示長度：按規(guī)定的方法測定的缺陷長度。與缺陷的實際長度有一定的差別陷長度。與缺陷的實際長度有一定的差別。n測定原理：根據(jù)缺陷的最大回波高度降低測定原理：根據(jù)缺陷的最大回波高度降低的情況和探頭移動的距離來確定缺陷的邊的情況和探頭移動的距離來確定缺陷的邊界范圍或長度。界范圍或長度。1) 1) 相對靈敏度測長法：以缺陷的最高回

42、波相對靈敏度測長法：以缺陷的最高回波為相對基準(zhǔn)。沿缺陷的長度方向移動探頭為相對基準(zhǔn)。沿缺陷的長度方向移動探頭，降低一定的，降低一定的dBdB值來測定缺陷的長度。值來測定缺陷的長度。88a. 6dBa. 6dB法：掃查過程中缺陷反射波只有一個法：掃查過程中缺陷反射波只有一個高點情況；高點情況；b. b. 端點端點6dB6dB法：掃查過程中缺陷反射波有多法：掃查過程中缺陷反射波有多個高點情況。個高點情況。892) 2) 絕對靈敏度測長法：絕對靈敏度測長法： 在儀器靈敏度一定在儀器靈敏度一定的條件下，探頭沿缺陷的長度方向左右移的條件下，探頭沿缺陷的長度方向左右移動，當(dāng)缺陷波高降低到規(guī)定位置時，將探動

43、，當(dāng)缺陷波高降低到規(guī)定位置時，將探頭移動的距離作為缺陷的指示長度。頭移動的距離作為缺陷的指示長度。903) 3) 端點峰值法：掃查過程中缺陷反射波有多端點峰值法：掃查過程中缺陷反射波有多個高點情況，將缺陷兩端反射波極大值之個高點情況，將缺陷兩端反射波極大值之間探頭移動的距離作為缺陷的指示長度。間探頭移動的距離作為缺陷的指示長度。916.4.4 6.4.4 非缺陷回波的判斷非缺陷回波的判斷1. 1. 遲到波：遲到波： 當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件或試塊上時，當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件或試塊上時，擴散縱波波束在側(cè)壁產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換（縱波擴散縱波波束在側(cè)壁產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換（縱波橫波，橫波橫波，橫波縱波），最后經(jīng)底

44、面反射縱波），最后經(jīng)底面反射回探頭出現(xiàn)的回波。回探頭出現(xiàn)的回波。932. 612. 61反射：反射： 當(dāng)探頭置于直角三角形工件上時，若縱當(dāng)探頭置于直角三角形工件上時，若縱波入射角波入射角與橫波反射角與橫波反射角的關(guān)系為：的關(guān)系為：=90=90會出現(xiàn)位置特定的反射波。會出現(xiàn)位置特定的反射波。3. 3. 三角反射：三角反射： 縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，擴散縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，擴散聲束在圓柱面上形成三角反射路徑出現(xiàn)的聲束在圓柱面上形成三角反射路徑出現(xiàn)的多個反射回波。多個反射回波。984. 4. 探頭雜波探頭雜波5. 5. 工件輪廓回波工件輪廓回波6. 6. 幻像波幻像波997. 7.

45、側(cè)壁干涉波側(cè)壁干涉波(1) (1) 側(cè)壁干涉對檢測的影響側(cè)壁干涉對檢測的影響 側(cè)壁干涉的影響，改變了探頭的指向，側(cè)壁干涉的影響，改變了探頭的指向，缺陷最高回波不在探頭的軸線上，影響缺缺陷最高回波不在探頭的軸線上，影響缺陷定位和定量。陷定位和定量。(2) (2) 避免側(cè)壁干涉的條件：避免側(cè)壁干涉的條件： 1 1）探頭軸線上的缺陷反射：）探頭軸線上的缺陷反射：2W2Wa a44 避免側(cè)壁干涉的最小距離避免側(cè)壁干涉的最小距離 d dminmin 為：為：2 2）底面反射：）底面反射：2W 2W 2 2a a 44 避免側(cè)壁干涉的最小距離避免側(cè)壁干涉的最小距離d dminmin 為：為：6.5 6.5

46、 橫波斜探頭檢測技術(shù)橫波斜探頭檢測技術(shù)6.5.1 6.5.1 檢測設(shè)備的調(diào)節(jié)檢測設(shè)備的調(diào)節(jié)1. 1. 探頭入射點和折射角的測定探頭入射點和折射角的測定2. 2. 掃描速度的調(diào)節(jié)掃描速度的調(diào)節(jié)104(1)(1)聲程調(diào)節(jié)法：示波屏上的水平刻度值聲程調(diào)節(jié)法：示波屏上的水平刻度值與與橫波聲程橫波聲程x x成比例。成比例。(2)(2)水平調(diào)節(jié)法：示波屏上的水平刻度值水平調(diào)節(jié)法：示波屏上的水平刻度值與與反射體的水平距離反射體的水平距離 l l 成比例。成比例。(3)(3)深度調(diào)節(jié)法：示波屏上的水平刻度值深度調(diào)節(jié)法：示波屏上的水平刻度值與與反射體的深度反射體的深度d d成比例。成比例。3. 3. 距離距離波

47、幅曲線的制作和靈敏度調(diào)整波幅曲線的制作和靈敏度調(diào)整n距離距離波幅曲線：相同大小的反射體隨波幅曲線：相同大小的反射體隨探頭距離的變化其反射波高的變化曲線探頭距離的變化其反射波高的變化曲線。n繪制：根據(jù)時基線調(diào)節(jié)的三種方法，按繪制：根據(jù)時基線調(diào)節(jié)的三種方法，按相應(yīng)的方法進行繪制。相應(yīng)的方法進行繪制。n4. 4. 傳輸修正值的測定和補償傳輸修正值的測定和補償106 傳輸修正值：包括試塊和工件兩者間材料傳輸修正值：包括試塊和工件兩者間材料的材質(zhì)衰減以及工件表面粗糙度和耦合狀的材質(zhì)衰減以及工件表面粗糙度和耦合狀態(tài)引起的表面聲能損失。態(tài)引起的表面聲能損失。1076.5.2 6.5.2 掃查掃查n四種基本掃

48、查方式：四種基本掃查方式： 前后、左右、轉(zhuǎn)向和環(huán)繞掃查。前后、左右、轉(zhuǎn)向和環(huán)繞掃查。 前后左右掃查用于發(fā)現(xiàn)缺陷的存在；前后左右掃查用于發(fā)現(xiàn)缺陷的存在； 左右掃查用于缺陷橫向長度的測定；左右掃查用于缺陷橫向長度的測定； 轉(zhuǎn)向掃查和環(huán)繞掃查確定缺陷的形狀。轉(zhuǎn)向掃查和環(huán)繞掃查確定缺陷的形狀。1101116.5.3 6.5.3 缺陷的評定缺陷的評定n缺陷的評定包括：缺陷的水平位置和垂直缺陷的評定包括：缺陷的水平位置和垂直深度的確定以及缺陷尺寸的評定。深度的確定以及缺陷尺寸的評定。n缺陷的水平位置和垂直深度：缺陷的水平位置和垂直深度： 根據(jù)缺陷反射回波幅度最大時，在時基線根據(jù)缺陷反射回波幅度最大時，在時

49、基線上缺陷回波的前沿位置所讀出的聲程距離上缺陷回波的前沿位置所讀出的聲程距離或水平、垂直距離，再按已知的探頭折射或水平、垂直距離，再按已知的探頭折射角計算得到的。角計算得到的。n缺陷的尺寸：缺陷的尺寸： 通過測量缺陷發(fā)射波高與基準(zhǔn)反射體回通過測量缺陷發(fā)射波高與基準(zhǔn)反射體回波波高之比，以及測定缺陷的延伸長度來波波高之比，以及測定缺陷的延伸長度來進行評定的。進行評定的。114 1. 1. 平面工件的缺陷定位平面工件的缺陷定位 工件中缺陷的位置由探頭的折射角和工件中缺陷的位置由探頭的折射角和聲程來確定或由缺陷的水平和垂直方向的聲程來確定或由缺陷的水平和垂直方向的投影來確定。三種橫波掃描速度調(diào)節(jié)方法投

50、影來確定。三種橫波掃描速度調(diào)節(jié)方法（聲程、水平、深度）相對應(yīng)的缺陷定位（聲程、水平、深度）相對應(yīng)的缺陷定位方法方法。 2. 2. 圓柱曲面工件的缺陷定位圓柱曲面工件的缺陷定位n沿軸向檢測，缺陷定位與平面相同；n沿周向檢測，缺陷定位與平面不同，分外沿周向檢測，缺陷定位與平面不同，分外圓和內(nèi)壁檢測兩種情況：圓和內(nèi)壁檢測兩種情況：(1) (1) 外圓周向探測：外圓周向探測圓柱面時外圓周向探測：外圓周向探測圓柱面時，缺陷的位置由深度，缺陷的位置由深度H H和弧長和弧長L L來確定。來確定。n當(dāng)探頭從圓柱曲面外壁作周向檢測時，弧當(dāng)探頭從圓柱曲面外壁作周向檢測時，弧長長L L總比水平距離總比水平距離 l

51、l 值大，但深度值大，但深度H H總比總比 d d 值小。值小。117118(2) (2) 內(nèi)壁周向探測：內(nèi)壁周向探測圓柱面時內(nèi)壁周向探測：內(nèi)壁周向探測圓柱面時，缺陷的位置由深度，缺陷的位置由深度 h h 和弧長和弧長 l l來確定。來確定。n當(dāng)探頭從圓柱曲面內(nèi)壁作周向檢測時，弧當(dāng)探頭從圓柱曲面內(nèi)壁作周向檢測時，弧長長L L總比水平距離總比水平距離 l l 值小，但深度值小，但深度H H總比總比 d d 值大。值大。119n(3) (3) 最大探測壁厚：當(dāng)用采用橫波斜探頭最大探測壁厚：當(dāng)用采用橫波斜探頭從外圓周向檢測筒體工件時且波束軸線與從外圓周向檢測筒體工件時且波束軸線與筒體內(nèi)壁相切時，對應(yīng)

52、的壁厚為最大探測筒體內(nèi)壁相切時，對應(yīng)的壁厚為最大探測厚度厚度T Tm m，工件壁厚超過該厚度值時，超聲波，工件壁厚超過該厚度值時，超聲波束將掃查不到內(nèi)壁。束將掃查不到內(nèi)壁。n不同不同K K值探頭最大檢測壁厚值探頭最大檢測壁厚T Tm m與工件外徑與工件外徑D D之之比比T Tm m/D/D為：為：122n3. 3. 缺陷定量：缺陷回波幅度和指示長度缺陷定量：缺陷回波幅度和指示長度n 回波幅度評定：依據(jù)規(guī)則反射體的回波幅回波幅度評定：依據(jù)規(guī)則反射體的回波幅度與缺陷尺寸的關(guān)系，常用實測距離度與缺陷尺寸的關(guān)系，常用實測距離波波幅曲線進行評定。幅曲線進行評定。n 測長法：相對靈敏度法：測長法：相對靈敏

53、度法： a. 6dB a. 6dB法法 b. b. 端點端點6dB6dB法法 絕對靈敏度法絕對靈敏度法: : 端點峰值法端點峰值法: :4. 4. 非缺陷回波的判定非缺陷回波的判定 (1) (1) 工件輪廓回波工件輪廓回波124(2) (2) 端角反射波端角反射波(3) (3) 探頭雜波探頭雜波(4) (4) 表面波表面波(5) (5) 幻象波幻象波(6) (6) 草狀回波草狀回波(7) (7) 焊縫中的變形波焊縫中的變形波126127128(8) “(8) “山山”形波形波6.6 6.6 影響缺陷定位、定量的主要因素影響缺陷定位、定量的主要因素6.6.1 6.6.1 影響缺陷定位的主要因素影響缺陷定位的主要因素1. 1. 儀器的影響儀器的影響: : 發(fā)射脈沖頻帶寬度、接收系發(fā)射脈沖頻帶寬度